當前位置：
深圳市泰立儀器儀表有限公司 >
產品中心 >
工業無損檢測 > 德國KD涂層測厚儀PC-LEPTOSKOP 2050
德國KD涂層測厚儀PC-LEPTOSKOP 2050
| 產品型號： |
PC-LEPTOSKOP 2050 |
| 品 牌： |
德國KD |
|
|
| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2024-12-26 |
| | 品牌：德國KD | | 加工定制：否 | | 型號：PC-LEPTOSKOP 2050 | |
| | 類型：涂層 | | 測量范圍：0-120 mm | | 顯示方式：數顯 | |
| | 電源電壓：1.5 V | | 測量范圍：0-120 mm | | 顯示方式：數顯 | |
德國KD涂層測厚儀PC-LEPTOSKOP 2050
產品介紹
PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜層測厚儀的探頭，它只需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測厚儀的功能均可通過與WINDOWS操作系統匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來實現。
當啟動statwin 2002時，一個真實的涂層測厚儀顯示圖像就可以顯示在個人電腦的屏幕上。所有功能操作只需點擊一下鼠標或鍵盤。 STATWIN 2002用statwin 2002 ，可以分批儲存和管理幾乎任何數量的測量數據。文件和歸檔幾乎是無限的。 此外，該軟件附帶了大量的統計功能，可以實現測量評估和批次。
除了有測量鐵磁性基體上非鐵磁涂層的厚度（如鋼鐵上的漆層或鉻層）和導電材料上的非導電層涂層的厚度（如非鐵金屬上的漆層），測量范圍到1200 μ m的標準探頭，我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復雜的幾何形狀的探頭，雙晶探頭可測量厚度高達12.5mm，我們同時還提供完整的配件。
為固定測試有特別的設計， PC-leptoskop 2050是一個一流的膜層測厚儀。
應用實例為
PC-leptoskop 2050：
筆記型電腦與個人電腦軟件statwin 2002 ，
電腦微型探頭和定位裝置
訂貨信息
STATWIN 2002 電腦軟件 2904.001
用于Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0
德國KD涂層測厚儀PC-LEPTOSKOP 2050 探頭，測量范圍和訂貨號
德國KD涂層測厚儀PC-LEPTOSKOP 2050探頭
