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SEB2KF5美國GE-TR直探頭
美國GE-TR直探頭 SEB..KF和SEZ5M5：具有小的高度和小的單元尺寸的特殊探頭，用于近表面的小的和*小的缺陷的探測。簡潔的形狀使這種類型的探頭可以用于一些臨界位置或者不易接近的位置。
特性：非常好的近場分辨率
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
O= 提供探頭數據表
O= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。

類型 [訂購號碼]	a×b [mm]	f [MHz]	AB* [mm]	N [mm]	EB [mm]	聲束形狀 編號	備注	草圖
特性帶寬：65%
DA0.8G	20Ø	0.8	3-400	35	8	0.8-20/2	用于高衰減	類型15
特性帶寬：40%
SEB1 SEB2 SEB2-0° SEB4 SEB4-0°	21Ø 7×18 7×18 6×20 6×20	1 2 2 4 4	3-400 2-1000 4.5-2000 1.5-2000 4-4000	20 15 30 12 25	10 5 5 2.5 2.5	1-21/2 2-7×18 2-7×18-0 4-6×20 4-6×20-0	0°意味著 兩個單元的 公共角度是 0° 帶寬100%		類型15 類型16 類型17
MSEB2 MSEB4 MSEB4-0° MSEB5	11Ø 3.5×10 3.5×10 9Ø	2 4 4 5	2-400 1-1500 1.5-2000 0.5-200	8 10 18 10	5 2.5 2.5 1	2-11/2 4-3.5×10 4-3.5×10-0 5-9/2
SEB2KF5 SEB4KF8 SEB5KF3	8 Ø 8 Ø 8 Ø	2 4 5	1.5-350 0.8-400 0.5-80	6 6 3	4 2 1	2-8/2 4-8/2 5-8/2
SEB10KF3	5 Ø	10	0.3-140	3	0.5	10-5/2			類型18
SEZ5M5	3 Ø	5	0.6-50	3	1	5-3/2	固定電纜(2m)		類型19
合成單元，特性帶寬70%
SEK2C	7×18	2	1.5-1500	15	4	2-7×18		類型15
MSEK2 MSEK4	11 Ø 3.5×10	2 4	1.5-450 1-2000	8 10	4 2	2-11/2 4-3.5×10		類型16

*) 用于無衰減材料時規定的工作范圍上限。實際上，如果頻率增加，則上限急劇降低。
提供其它頻率、單元直徑、帶寬或設計的探頭。
我們還有大量的特殊探頭可以用于在熱表面上的測量（請見28和29頁）





















 

附件描述	類型	備注
探頭電纜（2米） 耦合劑	SEKG2 SEKM2 ZG-F	用于SEB..,SEK..,MSEB.., MSEK.., DA0.8G 用于SEB.KF. 見36頁

美國GE超聲波探頭 
主要特性： 
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收 
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外） 
•牢固的金屬盒 
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力 
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
 
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果