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美國GE塑料楔塊斜探頭K0.5S KSY45
| 產(chǎn)品型號： |
K0.5S *)+KSY45 |
| 品 牌： |
美國GE |
|
|
| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2024-12-26 |
| | 品牌：美國GE | | 型號：K0.5S *)+KSY45 | | 加工定制：否 | |
| | 用途：用于接觸式檢測方法的探頭 | | 是否進(jìn)口：是 | | 加工定制：否 | |
美國GE塑料楔塊斜探頭K0.5S KSY45
美國GE塑料楔塊斜探頭 WRY..、WSY..和K..S+KSY..：對具有強的聲波散射的材料進(jìn)行測試（如奧氏體焊接點和球墨鑄鐵）。70°入射角度的探頭適合用于在低碳鋼中激發(fā)爬波。
特性：特別適合于測試粗晶材料
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數(shù)據(jù)表
= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
類型
[訂購號碼] |
D [mm] N [mm] |
f [MHz] |
B 1) [Grad] |
AB* |
[mm] |
EB [mm] |
聲束形狀
編號 |
備注 |
草圖 |
| 特殊斜楔的應(yīng)用；特性帶寬：60% |
K0.5S *)+KSY45
K1S *)+KSY45
K1SM *)+K3MY45 |
34
34
28 |
0.5
1
1 |
45
45
45 |
50-200
30-800
25-500 |
22
46
31 |
8
5
5 |
0.5-34
1-34
1-28 |
延遲塊必須單獨訂
購，請見附件 |
類型26
類型27 |
K1SC *)+KSMY45
K2SC *)+KSMY45 |
24
24 |
1
2 |
45
45 |
20-700
12-1400 |
23
45 |
5
3 |
1-24
1-24 |
有合成單元
有合成單元 |
|
| 有合成單元和集成斜楔，特性帶寬：70% |
WRY45
WRY60
WRY70 |
24 |
1.5
1.5
1.5 |
45
60
70 |
10-140
10-120
25-80 |
34
34
34 |
4
4
4 |
1.5-24
1.5-24
1.5-24 |
包含可互換延遲塊
WRY70適于在低碳
鋼中激發(fā)蠕變波 |
類型28 |
WSY45-2
WSY60-2
WSY70-2
WSY45-4
WSY60-4
WSY70-4 |
10 |
2
2
2
4
4
4 |
45
60
70
45
60
70 |
8-200
8-150
8-100
4-800
6-500
6-350 |
8
8
8
16
16
16 |
3
3
3
1.5
1.5
1.5 |
2-10
2-10
2-10
4-10
4-10
4-10 |
有集成固定斜楔
WRY70適于在低碳
鋼中激發(fā)蠕變波 |
類型29 |
1) 速率5750
*） 這些探頭與名字相同的直探頭是一樣的。所以用于縱波的斜楔KSY..和KSMY..，與用于橫波的斜楔KS..和KSM..必須要分別訂購。
| 附件描述 |
類型 |
備注 |
探頭電纜（2米）
斜楔（單獨訂購）
備用斜楔
耦合劑 |
PKLL2
MPKl2
KSY45
KSMY45
KS45
KSM45
54885
54886
54887
ZG-F |
用于K..S, K..SM, K..SC
用于WRY.., WSY..
用于K..S（縱波）
用于K..SM(縱波）
用于K..S（橫波）
用于K..SM(橫波）
用于WRY45
用于WRY60
用于WRY70
見36頁 |
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機(jī)械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機(jī)械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
