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美國GE水密式直探頭Z5K
詳細信息| 詢價留言品牌:美國GE 型號:Z5K 加工定制:否 用途:用于檢測小缺陷 是否進口:是 加工定制:否
主要用途: 通常:通過一個水延遲通道,以可能*好的測試結果復現性,實現流水線或大批量生產零件的小缺陷和*小缺陷以及有缺陷材料組織的半自動和全自動測試。
特性:高的增益儲備
注釋:
粗體=首選探頭,帶簡短注釋說明
= 提供探頭數據表
= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋,見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。類型
[訂購號碼]D [mm] f [MHz] AB6/11)
[mm]N [mm] F [mm] 近場分辨率
FBH [mm]聲束形狀
編號備注 草圖 帶固定電纜的大殼體;特性帶寬:40% Z1N
Z2N
Z4N
Z5N20 1
2
4
528-156
50-267
100-534
127-66864
127
254
3185Ø in28
2Ø in19
2Ø in9.6
2Ø in81-20
2-20
4-20
5-20可拆卸環 類型33 帶固定電纜的中等尺寸殼體;特性帶寬:40% Z2K
Z4K
Z4KP20
Z4KL20
Z5K
Z10K10 2
4
4
4
5
1014-77
28-154
15-32
15-32
34-190
68-38032
64
80
16020
202Øin9
2Øin6.5
2Øin6.0
2Øin6.0
2Øin5
2Øin42-10
4-10
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5-10
10-10可拆卸環
點聚焦
線聚焦類型34 帶固定電纜的小尺寸殼體;特性帶寬:40% Z5M
Z10M
Z10ML15
Z10MP15
Z15M5 5
10
10
10
158-52
16-104
10-23
10-23
24-15620
40
6015
152Øin3
2Øin2
2Øin2
2Øin2
2Øin1.65-5
10-5
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15-5線聚焦
點聚焦類型35
1) 請見第5頁中的定義。附件描述 類型 備注 探頭Z..K進行接觸測試的延遲線
耦合帽承索 承索
對于干耦合見36頁
探頭分為兩大類:接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好,用于較薄部件
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測,如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好,效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好,檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架,溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果 -
留 言
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