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美國GE水密封體直探頭H2K
產品型號: |
H2K |
品 牌: |
美國GE |
|
所 在 地: |
廣東深圳 |
更新日期: |
2024-12-26 |
| 品牌:美國GE | | 型號:H2K | | 加工定制:否 | |
| 用途:用于檢測小缺陷 | | 是否進口:是 | | 加工定制:否 | |
美國GE水密封體直探頭H2K
美國GE水密體直探頭 H..N、H..K和H..M:特別適合于壁厚測量。也可以用于測試小型零部件的小缺陷和非均勻性,例如焊接點的所有類型粘接缺陷、薄弱焊接點的缺陷、裂縫、高質量的鑄造和燒結金屬中的空洞和氣孔、黃銅和青銅裝置中的裂縫。
特性:極好的分辨率和非常好的缺陷探測性
注釋:
粗體=首選探頭,帶簡短注釋說明
= 提供探頭數據表
= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋,見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
類型
[訂購號碼] |
D [mm] |
f [MHz] |
AB [mm] |
N F [mm] / |
近場分辨率1)
[mm] |
聲束形狀
編號 |
備注 |
草圖 |
缺陷探測的高分辨率探頭,UHF插座,特性帶寬:80% |
IA5.8
IAP5.12.6
IAP10.6.3
IAP15.6.2 |
12.7
19
9.5
9.5 |
5
5
10
15 |
60-190
115-225
55-130
40-65 |
130
150
75
50 |
ZYB 0.5Ø in 3
ZYB 0.5Ø in 1.5
FBB 0.4Ø in 1.3
FBB 0.4Ø in 1.0 |
5-12.7
-
-
- |
點聚焦
點聚焦
點聚焦 |
類型39
類型40
類型39
類型39 |
帶固定電纜的沖擊波探頭,特性帶寬:100% |
H1N
H2N |
20
20 |
1
2 |
28-156
50-267 |
64
127 |
FBB 5Ø in19
FBB 2Ø in13 |
1-20
2-20 |
|
類型36 |
H2K
H5K
H10K |
10 |
2
5
10 |
14-77
34-190
68-380 |
32
80
160 |
FBB 2Ø in6.5
FBB 2Ø in4
FBB 2Ø in2 |
2-10
5-10
10-10 |
|
類型37 |
H5M
H10M
H10MP15
H10ML15 |
5 |
5
10
10
10 |
8-52
16-104
10-23
10-23 |
20
40
15
15 |
FBB 2Ø in3
FBB 2Ø in1.5
FBB 2Ø in1.5
FBB 2Ø in1.5 |
5-5
10-5
-
- |
點聚焦
線聚焦 |
類型38 |
帶固定電纜的寬帶探頭,特性帶寬:80% |
L1N
L2N
L2K
L4K
L5K
L5M |
20
20
10
10
10
5 |
1
2
2
4
5
5 |
28-156
50-264
14-77
28-154
34-190
8-52 |
63
127
32
64
80
20 |
FBB 2Ø in24
FBB 2Ø in12
FBB 2Ø in6
FBB 2Ø in5
FBB 2Ø in3.5
FBB 2Ø in2.5 |
1-20
2-20
2-10
4-10
5-10
5-5 |
|
類型36
類型36
類型37
類型38 |
所有探頭都有點聚焦或線聚焦形式(請注明焦距)。其它設計根據要求確定。
1) 注意第5
附件描述 |
類型 |
備注 |
探頭電纜(2米)
H..K進行接觸測試
的延遲線
耦合帽 |
PKI2
承索 |
用于IA..和IAP..
承索
對于干耦合見36頁 |
探頭分為兩大類:接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好,用于較薄部件
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測,如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好,效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好,檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架,溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果