 |
-
日本KETT LZ-200J系列膜厚計(jì)
產(chǎn)品型號(hào)： LZ-200J 品 牌： 日本KETT 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地： 廣東深圳 更新日期： 2024-12-26 詳細(xì)信息品牌：日本KETT 加工定制：否 型號(hào)：LZ-200J 類型：鍍層 測(cè)量范圍：0-1.5 mm 顯示方式：數(shù)顯 電源電壓：6 V 外形尺寸：175×245×31 mm 顯示方式：數(shù)顯 日本KETT LZ-200J系列膜厚計(jì)（涂鍍層測(cè)厚儀）
泰立儀器為您推薦日本KETT膜厚計(jì)：LE-200J LH-200J LZ-200J 免費(fèi)提供咨詢，培訓(xùn)以及檢測(cè)服務(wù)。 82513966 QQ：--- 2355613391
本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損的測(cè)量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導(dǎo)電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號(hào) LE-200J LH-200J LZ-200J 測(cè)定對(duì)象 磁性金屬上非磁性涂鍍層 非磁性金屬上絕緣層 磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上絕緣層 測(cè)定范圍 0～1500um
或0～60.0mils0～800um
或0～32.0mils0～1500um
或0～60.0mils測(cè)定精度 <50um±1um , >50um±2% 分 辨 率 <100um 0.1um , >100um 1um 功能統(tǒng)計(jì) 可設(shè)定上/下限數(shù)值，可分批統(tǒng)計(jì)*大值、*小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差。
數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)，可連接電腦，內(nèi)置打印機(jī)、即時(shí)打印計(jì)量單位 公制、英制可自由切換 顯示方式 LCD液晶屏 操作面板 密封防水多功能數(shù)字鍵盤 隨機(jī)附件 基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說明書/穩(wěn)壓電源/打印紙 電 源 DV6V 5#堿性電池×6個(gè)（打印機(jī)另需4個(gè)），可接穩(wěn)壓電源 體 積 175mm(W)×245(mmD)×31mm(H) 重 量 1100g -
留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
- 傳 真：0755-83986906
- 郵 箱：taili668@vip.163.com
- 郵 編：518172
- 地 址：深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址：
https://taili668.cn.goepe.com/
http://www.yangtan.cn
-
產(chǎn)品分類
-
工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
-
計(jì)量測(cè)試儀
-
環(huán)境暖通測(cè)試
-
光纖通信測(cè)試
-
電子電工測(cè)試儀
-
其他
-
