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美國(guó)GE貝克休斯高溫探頭W60B4GV
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：W60B4GV 加工定制：否 用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國(guó) 美國(guó)GE貝克休斯高溫探頭W60B4GV
應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)規(guī)則簡(jiǎn)單的大型工件檢測(cè)
•鍛件、坯料檢測(cè)
•板材、棒材、方型材
•容器、機(jī)器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測(cè)
功能特和優(yōu)勢(shì)
•歐式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長(zhǎng)探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標(biāo)準(zhǔn)探頭連接器安裝在側(cè)面，頂部接口可選
•美式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 保護(hù)膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護(hù)膜可無(wú)限期延長(zhǎng)探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進(jìn)行檢測(cè)。
– BNC 連接器，側(cè)面或頂部安裝
TR直探頭SEB KV，可以經(jīng)受200℃的恒溫作用，如果間歇使用，在短暫地接觸熱的表面后進(jìn)行冷卻的話(huà)，溫度可
以高達(dá)600℃。斜探頭W..B.GV可以經(jīng)受200℃的恒溫作用，如果中斷式地操作，則使用溫度可以高達(dá)350℃。類(lèi)型 f [MHz] b [度] a×b[mm] F N [mm] / 探頭電纜 SEB2KV 2 0 10 15 3-250 SEB4KV 4 0 10 18 2-750 W45B2GV 2 45 10 x 14 35 7-300 W60B2GV 2 60 10 x 14 35 7-280 W70B2GV 2 70 10 x 14 35 7-260 W45B4GV 4 45 10 x 14 70 5-450 W60B4GV 4 60 10 x 14 70 5-425 W70B4GV 4 70 10 x 14 70 5-400 
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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產(chǎn)品分類(lèi)
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線(xiàn)探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線(xiàn)數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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