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V212-BA-RM探傷儀探頭美國泛美
詳細信息| 詢價留言品牌：美國泛美 型號：V212-BA-RM 加工定制：否 類型：超聲波 測量范圍：10 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 重量：0.05 kg 分辨率：20*22 V212-BA-RM探傷儀探頭美國泛美
應用
• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對陶瓷及高級工程材料進行檢測。
• 可對材料進行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設置。
高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測法時，利用永久熔融石英延遲塊可進行缺陷評價、材料分析或厚度測量。
• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。
• 其標準連接器類型為直角Microdot（RM）。
高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。
訂購型號如下：
若需要更高頻率的探頭，請與我們聯(lián)系:頻率 標稱
晶片尺寸延遲 探頭
工件編號MHz 英寸 毫米 微秒 20 0.25 6 4.25 V212-BA-RM 0.25 6 4.25 V212-BB-RM 0.25 6 2.5 V212-BC-RM 30 0.25 6 4.25 V213-BA-RM 0.25 6 4.25 V213-BB-RM 0.25 6 2.5 V213-BC-RM 50 0.25 6 4.25 V214-BA-RM 0.25 6 4.25 V214-BB-RM 0.25 6 2.5 V214-BC-RM 0.125 3 4.25 V215-BA-RM 0.125 3 4.25 V215-BB-RM 0.125 3 2.5 V215-BC-RM 75 0.25 6 2.5 V2022 (BC) 0.125 3 2.5 V2025 (BC) 100 0.125 3 4.25 V2054 (BA) 0.125 3 2.5 V2012 (BC) 125 0.125 3 2.5 V2062
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