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V2054(BA)超聲波探頭美國(guó)泛美
產(chǎn)品型號(hào): V2054(BA) 品 牌: 美國(guó)泛美 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地: 廣東深圳 更新日期: 2025-01-10 詳細(xì)信息品牌:美國(guó)泛美 型號(hào):V2054(BA) 加工定制:否 類型:超聲波 測(cè)量范圍:10 分辨率:20*22 尺寸:12 mm 重量:0.05 kg 分辨率:20*22
高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測(cè)法時(shí),利用永久熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評(píng)價(jià)、材料分析或厚度測(cè)量。
• 3種不同延遲塊的配置(BA、BB、BC)可形成多種延遲塊回波的組合。
• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot(RM)。
頻率 標(biāo)稱
晶片尺寸延遲 探頭
工件編號(hào)MHz 英寸 毫米 微秒 20 0.25 6 4.25 V212-BA-RM 0.25 6 4.25 V212-BB-RM 0.25 6 2.5 V212-BC-RM 30 0.25 6 4.25 V213-BA-RM 0.25 6 4.25 V213-BB-RM 0.25 6 2.5 V213-BC-RM 50 0.25 6 4.25 V214-BA-RM 0.25 6 4.25 V214-BB-RM 0.25 6 2.5 V214-BC-RM 0.125 3 4.25 V215-BA-RM 0.125 3 4.25 V215-BB-RM 0.125 3 2.5 V215-BC-RM 75 0.25 6 2.5 V2022 (BC) 0.125 3 2.5 V2025 (BC) 100 0.125 3 4.25 V2054 (BA) 0.125 3 2.5 V2012 (BC) 125 0.125 3 2.5 V2062
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測(cè),如:微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè)。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測(cè)量薄如0.010毫米(0.0004英寸)材料的厚度*。
• 可對(duì)陶瓷及高級(jí)工程材料進(jìn)行檢測(cè)。
• 可對(duì)材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。
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留 言
- 聯(lián)系人:牟淑蓉
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http://www.yangtan.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
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- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
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- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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