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V374-SU超聲波探傷儀探頭美國泛美
產(chǎn)品型號(hào)： V374-SU 品 牌： 美國泛美 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地： 廣東深圳 更新日期： 2025-01-10 詳細(xì)信息品牌：美國泛美 型號(hào)：V374-SU 加工定制：否 類型：超聲波 測(cè)量范圍：10 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 重量：0.05 kg 分辨率：20*22 V374-SU超聲波探頭美國泛美
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了極佳的時(shí)間分辨率。
• 短波長可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測(cè)，如：微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè)。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測(cè)量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對(duì)陶瓷及高級(jí)工程材料進(jìn)行檢測(cè)。
• 可對(duì)材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。
高頻標(biāo)準(zhǔn)水浸外殼
• 永久熔融石英延遲塊。
• 聚焦單元使用一個(gè)高質(zhì)量的光學(xué)研磨透鏡。
• F202適配器可固定被動(dòng)UHF連接器和主動(dòng)Microdot連接器
• 將高頻率和小外殼設(shè)計(jì)的特點(diǎn)結(jié)合在一起。
參閱型號(hào)規(guī)格:頻率 標(biāo)稱
晶片尺寸延遲 聚焦長度 探頭
工件編號(hào)MHz 英寸 毫米 微秒 英寸 毫米 20 0.25 6 4.25 平 V354-SU 0.25 6 2.5 0.75 19 V372-SU 0.25 6 4.25 1.25 32 V373-SU 0.25 6 4.25 2 51 V374-SU 30 0.25 6 4.25 平 V356-SU 0.25 6 2.25 0.75 19 V375-SU 0.25 6 4.25 1.25 32 V376-SU 0.25 6 4.25 2 51 V377-SU 50 0.25 6 4.25 平 V358-SU -
留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
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