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美國貝克休斯GE探傷儀粗晶探頭K0.5S

產品型號：

K0.5S

品牌：

美國貝克休斯

≧1 只
￥8800.00

所在地：

廣東深圳

更新日期：

2024-12-26

詳細信息

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	品牌：美國貝克休斯		型號：K0.5S		加工定制：否
	用途：探傷儀測厚儀探頭		是否進口：是		產地：美國

美國貝克休斯GE探傷儀粗晶探頭K0.5S

探頭分為兩大類：接觸式和水浸式

接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測

水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果

美國GE粗晶探頭
對于普通探頭，由于粗晶粒結構所產生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測粗晶材料時要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結果，這主要取決于被檢測材料的聲學特性。