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美國(guó)GE測(cè)厚儀探頭CA211A
產(chǎn)品型號(hào): |
CA211A |
品 牌: |
GE |
|
所 在 地: |
廣東深圳 |
更新日期: |
2024-12-27 |
| 品牌:GE | | 型號(hào):CA211A | | 加工定制:否 | |
| 用途:壁厚測(cè)量 | | 是否進(jìn)口:是 | | 產(chǎn)地:美國(guó) | |
美國(guó)GE測(cè)厚儀探頭
主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描(非接觸測(cè)試)
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì),或者帶有固定的連接電纜,或者帶有水密封的連接插座(除Microdot外)
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭,從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類:接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好,用于較薄部件
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè),如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好,效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好,檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架,溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
用于壁厚測(cè)量的探頭,特別地與我們的數(shù)字測(cè)厚儀相匹配。
|
測(cè)厚探頭特殊應(yīng)用于壁厚測(cè)量,與我們的數(shù)字測(cè)厚儀匹配用。 |
測(cè)厚儀 |
量程(MM) |
訂購號(hào)嗎 |
接觸面 |
F(MHZ) |
備注 |
CL304 /
CL3DL |
0.13-5
0.18-25
1.6-250
1.6-380
1.6-25
0.125-…
|
Alpha 2A
Mini DFR
CLF4
CLF5
CA211A
CA215
Alpha DFR-P |
5
7.5
9.5
19
13
7.5
|
20
15
10
5
5
22
|
可更換的延遲線118-440-043
可更換的延遲線CLFV1
在塑料上測(cè)量,延遲線DFR-PV1
|
CL304 |
3-500 |
CA214 |
15 |
5 |
|
在高于60℃溫度下測(cè)量時(shí),有特殊的延遲線。
探頭分為兩大類:接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好,用于較薄部件
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè),如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)