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奧林巴斯Evident儀景通探傷儀OmniScan X4
詳細(xì)信息品牌:奧林巴斯Evident 型號:OmniScan X4 加工定制:是 類型:相控陣 測量范圍:0-20,000 mm 分辨率:0.0001 尺寸:145mm×寬 255mm×厚 145 mm 重量:5.7 kg 分辨率:0.0001
性能卓越,值得信賴
每臺OmniScan X4儀器堪稱一個(gè)無所不包的多技術(shù)檢測工具箱,可使您利用多種超聲檢測技術(shù)。利用其檢測和測量功能,可在損壞變得嚴(yán)重之前準(zhǔn)確識別和評估損壞的嚴(yán)重程度,從而保護(hù)那些容易出現(xiàn)裂紋或腐蝕的焊縫、部件和資產(chǎn)。
OmniScan X4多技術(shù)系列儀器是一種功能強(qiáng)大的便攜式解決方案,其高速度和多功能性可提升您的工作效率,同時(shí)增強(qiáng)您對評估工作的信心。利用其高級相控陣功能、高效的全聚焦方式(TFM) 和創(chuàng)新型相位相干成像(PCI)技術(shù),可以探測和解讀具有挑戰(zhàn)性的缺陷,并通過更早地識別損傷來確保資產(chǎn)的完整性。
使用PCI進(jìn)行可靠評估
在探測和突出顯示以往難以檢測的缺陷時(shí),如鉤狀裂紋和應(yīng)力腐蝕開裂(SCC),相位相干成像技術(shù)有助于消除疑慮。使用PCI可以清楚地區(qū)分細(xì)小裂紋群中的單個(gè)缺陷,并可靠地進(jìn)行表征。
TFM采集率提高了3倍
由于OmniScan X4系列儀器處理能力的提升,獲得清晰TFM圖像的速度比上一代型號(X3 64)快了三倍*。OmniScan X4 64:128PR儀器擁有128個(gè)晶片能力,速度更快,可以利用其擴(kuò)展的聚焦功能進(jìn)行TFM檢測。
獲得即時(shí)洞察力,消除低效率問題
TFM和PCI雙重技術(shù)讓您信心倍增
采用具有不同特性的PCI和TFM兩種技術(shù),同時(shí)從焊縫兩側(cè)徹查整個(gè)焊縫體積。使用兩個(gè)探頭對焊縫進(jìn)行一次性掃查,即可顯示TFM和PCI結(jié)果,以便高效精確地比較、測量和確認(rèn)缺陷特征。
奧林巴斯Evident儀景通探傷儀OmniScan X4
設(shè)計(jì)宗旨是提高速度和簡化操作
在OmniScan X4系列儀器上可以簡單直觀地進(jìn)行相控陣、TOFD、TFM和PCI檢測。任何經(jīng)驗(yàn)水平的檢測人員都可以利用這些技術(shù),通過簡單的逐步掃查計(jì)劃和應(yīng)用預(yù)設(shè),提高效率,增強(qiáng)信心。
便捷的應(yīng)用預(yù)設(shè)
OmniScan X4的應(yīng)用預(yù)設(shè),可以改善學(xué)習(xí)曲線,提高檢測在不同操作員之間的可靠性和一致性。即使是低級別用戶和新用戶也可以在幾分鐘內(nèi)完成優(yōu)質(zhì)的PA或PCI配置。 通過腐蝕和復(fù)合材料檢測選項(xiàng),這些預(yù)編程參數(shù)簡化了使用HydroFORM、FlexoFORM和RollerFORM掃查器的掃查設(shè)置,而且您還可以根據(jù)需要調(diào)整設(shè)置。
簡化了復(fù)雜配置
OmniScan X4掃查計(jì)劃的直觀分步3D圖形可簡化從基本到復(fù)雜的各種檢測設(shè)置。 在設(shè)置光柵掃查計(jì)劃時(shí),可以自行命名掃查軸,還可以創(chuàng)建相對于資產(chǎn)的基準(zhǔn)參考點(diǎn)。這些真實(shí)世界的參考以及真實(shí)方向的校正,大大地方便了為報(bào)告創(chuàng)建直觀的檢測數(shù)據(jù)示意圖的操作。
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