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日立便攜式熒光光譜儀X-MET8000

X-MET8000 是一款手持式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀，可提供快速無損的分析以及準確的牌號識別，實現理想的質檢和質保。

該分析儀將高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器 (SDD) 結合在一起，能夠為客戶提供各種質量檢驗應用。

借助 X-MET8000，您可在數秒內得到實驗室質檢結果，并降低檢測成本，縮短檢測時間。


為什么 X-MET8000 是您企業的理想之選？

分析結果值得您信任
X-MET8000 結合了通用的基本參數 (FP) 方法和經驗系數法（可溯源的標準物質），可提供超高的分析精密度和準確度。

性能優異
該分析儀提供對輕元素（Mg 到 S）的出色分析，可快速測試大多數商業用合金，包括鋁合金、硅和鋁青銅等。其提供低檢測限制，可準確區別相近牌號（例如 303-304、6061-6063），并可在數秒內得到實驗室質
檢結果。

易于操作
直觀的圖標驅動式用戶顯示意味著操作員幾乎不需任何培訓。該分析儀擁有便于快速制定決策的可自定義
結果屏幕，同時顯示您所需的重要信息。
該分析儀具備輕便性（1.5 千克），采用了符合人體工學的設計，因此操作舒適，適合日常使用。屏幕方便
操作員閱讀，即使在陽光直射下也不受影響，且可在穿戴手套的情況下操作。

準確
樣品尺寸自動補償，可準確測試直徑小至 1 毫米的管材、桿體、線材，以及焊縫、緊固件、車削下腳和碎屑等。


結構旨在經久耐用
X-MET8000 具備 IP54 防護等級（相當于 NEMA3），有防塵和防水性能。X-MET8000 具有耐沖擊外殼，且在顯示屏、儀器頭部及電池周圍均采用環保密封和減震橡膠，可有效防止受到撞擊。采用大面積散熱器，即便在高溫環境下也能提供理想的可靠性和穩定性。防護窗口（Expert 及 Optimum 型號的選購件）和高強度厚 Kapton® 窗口（Smart 型號）可防止探頭和X射線管在測試小部件與尖銳物品時受損。

強大的數據管理功能
可存儲多達十萬個檢測結果，包括光譜譜圖和樣品圖像（若配備相機）結果和報告可直接下載到 U 盤，或通過 USB 數據線傳到 PC 上，也可利用 WiFi 或藍牙實現網絡共享；可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式，以確保數據完整性。使用 X-MET 報告生成器創建自己的報告（無需安裝任何軟件）。此類報告可以
包括公司徽標、樣品圖像、分析結果、光譜圖和額外的樣品信息。借助我們的應用，您可以與供應商、客戶或同事實時分享分析結果。

全面的、可自定義的牌號庫
X-MET8000 內含有全面的牌號庫：預安裝的、用戶可選的 AISI、DIN、JIS 和 GB 牌號庫覆蓋超過 1600 種合金。用戶可對現有牌號庫進行修改，添加新牌號（例如某個廠商或者產地特定牌號），或者創建自己的牌號庫（例如特定的焊接材料牌號庫）。

預裝牌號庫包括
| 鎳合金。
| 不銹鋼。
| 銅合金。
| 鋁合金。
| 鈷合金。
| 低合金鋼。
| 工具鋼。
| 鈦合金。
| 鋯合金。
| 等。


X-MET8000 Smart
X射線管：40kV
濾光片：單一
檢測器：大面積 SDD
*高樣本溫度：400ºC
符合 IP54 等級
Thick Kapton®窗口：保護以預防探測器的窗戶損壞
校準：基本參數法(FP)
內置攝像頭 （可選）

X-MET8000 Optimum
X射線管：40kV or 50kV
濾光片：6位濾光轉換器
檢測器：大面積 SDD
*高樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護
校準：基本參數法 （包括輕元素分析）
內置攝像頭（可選）
小光班準直器（可選）
針對所有元素（從鎂到鈾）進行優先分析的六位濾光片

X-MET8000 Expert
X射線管：50kV
濾光片：6位濾光轉換器
檢測器：大面積 SDD
*高樣本溫度：100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC（可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護
校準方法：自動跳轉的經驗系數法（可進行追溯）
內置攝像頭
小光班準直器 （可選) 
針對所有元素，從鎂到鈾，的優先分析的六位濾光片

日立便攜式熒光光譜儀X-MET8000參數