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日立X射線熒光分析儀X-MET8000 Geo
詳細信息| 詢價留言品牌:日立 加工定制:否 型號:X-MET8000 Geo 光源:4瓦特X射線管 波長范圍:** nm 焦距:** mm 外形尺寸:** mm 重量:1500 g 適用范圍:覆蓋所有元素
日立X射線熒光分析儀X-MET8000 Geo
公司簡介
日立分析儀器是日立高新技術集團旗下的一家全球性公司。該公司總部位于英國牛津,在芬蘭、德國和中國有研發和組裝業務,在全球多個國家有銷售和支持業務。X-MET⁸000 Geo是一款X射線熒光分析儀(XRF),用于在現場進行環境土壤和沉積物篩選。該儀器可快速執行大量分析并完成測試程序,有助于大幅度降低對實驗室分析的需求以及相關的成本。
我們的革命性BOOSTTM技術可提供快速精確測量關鍵元素(例如,US EPA Method6200 RCRA和優先元素)所需的低檢測限。
X-MET集成了GPS,可將地理位置數據與分析結果相結合,實現完美的現場地圖繪制。該儀器也與Trimble接收器配合,獲得更準確的位置數據。
為什么 X-MET8000 Geo 是您企業的理想之選
現場測量和篩選
在具有多個測量點的區域使用X - MET,有助于現場決策,不必為了等待實驗室結果而暫停工作。
幾秒鐘內顯示結果
采用我們的標準土壤校準可同時測量多達40種元素,幾秒鐘內顯示結果,所需樣品制備量*小。
*少培訓
具備“一鍵即測”的簡單操作。開箱即可使用。
舒適
重量輕(1.5 kg)、出色的人體工學設計和長達10 - 12小時的電池壽命可確保工作流程不會出現中斷,且疲勞度降至*低。
經濟成本低
X-MET可承受*惡劣的環境和天氣條件,其具備 IP54防護等級(相當于NEMA3),有著超高的防塵和防水性能。該分析儀符合MIL-STD-810G強度標
準。
高級數據管理
多種報告格式可選,可直接下載到 U 盤,或通過 USB 數據線傳到 PC上,也可利用 WiFi 或藍牙實現網絡共享。
您可以隨時使用我們的ExTOPE Connect移動應用程序共享結果,我們的云服務使您能夠實時安全地導出結果、照片和GPS坐標。甚至可以用單個賬戶管理一系列X- MET的結果。
X-MET8000 Smart
X射線管:40kV
濾光片:單一
檢測器:大面積 SDD
*高樣本溫度:400ºC
符合 IP54 等級
Thick Kapton®窗口:保護以預防探測器的窗戶損壞
校準:基本參數法(FP)
內置攝像頭 (可選)
X-MET8000 Optimum
X射線管:40kV or 50kV
濾光片:6位濾光轉換器
檢測器:大面積 SDD
*高樣本溫度:100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC(可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩:預防檢測器的窗口損壞進行保護
校準:基本參數法 (包括輕元素分析)
內置攝像頭(可選)
小光班準直器(可選)
針對所有元素(從鎂到鈾)進行優先分析的六位濾光片
X-MET8000 Expert
X射線管:50kV
濾光片:6位濾光轉換器
檢測器:大面積 SDD
*高樣本溫度:100ºC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400ºC(可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩:預防檢測器的窗口損壞進行保護
校準方法:自動跳轉的經驗系數法(可進行追溯)
內置攝像頭
小光班準直器 (可選)
針對所有元素,從鎂到鈾,的優先分析的六位濾光片
可選附件
我們提供全系列附件以簡化測試工作。
輔助桿
對于難以到達的分析地點,改進測量人體工學設計的 X-MET 桿提供了簡單的解決方
案。需要在表面面積很大的區域進行測量時,X-MET 桿可提供幫助。
兩腳架
需要較長的分析時間時,即超過 30 秒,使用兩腳架可解放雙手。
臺式支架
從便攜式到臺式配置,數秒內將 X-MET8000 變身成臺式儀器,滿足用戶大量樣品測定及操作安全,同時提高分析數據準確性及檢出限。
輻射防護
*小化散射輻射。輕型支架和安全護罩用于粉末的快速分析。可放入X-MET機箱,完全便于攜帶。
便攜式藍牙打印機
將結果打印在紙張或不干膠標簽上,并貼在試樣上;方便且不會混淆。
皮套和皮帶
分析儀的免提現場攜帶裝置 。可快速更換的防護窗口我們可快速更換的防護窗口意味著無需使用任何工具便可更換已損壞或玷污的窗口,避免探測器損壞和高昂的維修成本。
日立產品系列包括
微焦斑XRF鍍層分析儀:FT230以及FT160、FT110A和X-Strata920可測量單層和多層鍍層(包括合金層)的鍍層厚度,適用于質量控制或過程控制程序以及研究實驗室。
RoHS分析儀:日立的EA1400、EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析儀專為“有害物質限制”分析而設計,快速且易用,其靈活性能確保適應不斷發展的法規規定。及時的樣品分析對于環境篩選操作而言至關重要,可以快速準確地收集修復和評估數據。
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留 言
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