-
日本日立面銅測(cè)厚儀CMI165
詳細(xì)信息品牌:日本日立 加工定制:否 型號(hào):CMI165 類型:鍍層 測(cè)量范圍:2.0μm–254μm mm 顯示方式:數(shù)字 電源電壓:1.5 V 外形尺寸:230 mm 顯示方式:數(shù)字
日本日立便攜式面銅測(cè)厚儀CMI165
CMI165帶溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)厚儀,日立儀器CMI165是一款測(cè)量準(zhǔn)確簡(jiǎn)易與質(zhì)量可靠的手持式鍍層測(cè)厚儀。它可測(cè)試高/低溫的PCB銅箔,專為PCB銅箔制造商設(shè)計(jì)。該儀器人性化的設(shè)計(jì)、堅(jiān)固耐用的帶溫度補(bǔ)償功能,以確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確而不受銅箔溫度的影響,儀器配有探針?lè)雷o(hù)罩,確保探針的耐用性;配備探頭照明方便測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定位。
特點(diǎn)1、應(yīng)用先進(jìn)的微電阻測(cè)試技術(shù),符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。SRP-T1探頭由四支探針組成,AB為正極CD為負(fù)極;測(cè)量時(shí),電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻,通過(guò)電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響
2、耗損的SRP-T1探頭可自行更換,為牛津儀器專利產(chǎn)品
3、儀器的照明功能和SRP-T1探頭的保護(hù)罩方便測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定位
4、儀器具有溫度補(bǔ)償功能,測(cè)量結(jié)果不受溫度影響5、儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)6、測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)USB2.0 實(shí)現(xiàn)高速傳輸,可保存為Excel文件7、儀器使用普通AA電池供電
配置1.CMI165主機(jī)2.SRP-T1探頭3.NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片1個(gè)
-
留 言
- 聯(lián)系人:牟淑蓉
- 電 話:0755-83981822/82513866
- 手 機(jī):13662293689
- 傳 真:0755-83986906
- 郵 箱:taili668@vip.163.com
- 郵 編:518172
- 地 址:深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址:
https://taili668.cn.goepe.com/
http://www.yangtan.cn
-
產(chǎn)品分類
-
工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
-
計(jì)量測(cè)試儀
-
環(huán)境暖通測(cè)試
-
光纖通信測(cè)試
-
電子電工測(cè)試儀
-
其他
-