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奧林巴斯 OLYMPUS陣列渦流探傷儀OmniScan MX
詳細(xì)信息品牌：奧林巴斯 型號(hào)：OmniScan MX 加工定制：是 類型：渦流 測(cè)量范圍：根據(jù)自選探頭 分辨率：根據(jù)自選探頭 尺寸：321 mm × 209 mm × 125 mm 重量：4.6 kg 分辨率：根據(jù)自選探頭 奧林巴斯 OLYMPUS陣列渦流探傷儀 OmniScan MX
經(jīng)過現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證的、可靠的儀器
OmniScan MX是一款已經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證、性能可靠的儀器，其機(jī)身結(jié)構(gòu)堅(jiān)固耐用，可以在嚴(yán)酷、惡劣的檢測(cè)環(huán)境中正常工作；現(xiàn)在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬臺(tái)。這款儀器緊湊、輕巧，使用兩節(jié)鋰離子電池供電，在電池滿電量時(shí)，可以進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)6小時(shí)的手動(dòng)或半自動(dòng)檢測(cè)。
OmniScan MX儀器的8.4英寸顯示屏可以實(shí)時(shí)顯示高清彩色圖像，在大多數(shù)光線條件下，操作人員都可以查看缺陷及其細(xì)微情況。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡(jiǎn)潔、直觀的界面上輕松瀏覽，也可以將USB鼠標(biāo)連接到儀器，方便對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
一個(gè)平臺(tái)、兩款模塊、三種技術(shù)：靈活適用性更強(qiáng)
為了滿足更廣泛應(yīng)用的要求，兩款模塊都提供渦流檢測(cè)（ECT）、渦流陣列（ECA）以及粘接檢測(cè)（BT）C掃描技術(shù)。兩款模塊都與MXE（ECT/ECA）和MXB（BT C掃描）軟件兼容；要做到這點(diǎn)，只需在各種技術(shù)之間進(jìn)行簡(jiǎn)單轉(zhuǎn)換，操作人員接受少許培訓(xùn)即可。
奧林巴斯無損檢測(cè)（NDT）探頭是高質(zhì)量的檢測(cè)設(shè)備，有多種頻率、配置、連接方式和電纜類型。奧林巴斯的所有探頭都很輕，但結(jié)構(gòu)卻很堅(jiān)固。奧林巴斯在設(shè)計(jì)和制造無損檢測(cè)探頭方面經(jīng)驗(yàn)豐富，其所提供的設(shè)備可滿足或超過全球客戶的檢測(cè)要求。奧林巴斯所提供的系列探頭可用于探傷、測(cè)厚和材料研究等應(yīng)用。此外，奧林巴斯還提供設(shè)計(jì)服務(wù)，為客戶定制可滿足應(yīng)用需求的探頭解決方案。
渦流探頭
渦流探頭包含奧林巴斯所購(gòu)買的Nortec品牌探頭和NDT工程探頭。我們提供10000多種標(biāo)準(zhǔn)的和用戶定制的渦流探頭、標(biāo)準(zhǔn)參考試塊及配件。
便攜式渦流（EC）探傷儀用于檢測(cè)金屬部件，其對(duì)工件表面和近表面缺陷的檢測(cè)性能非常可靠。完整系列的便攜式探傷儀可以服務(wù)于各種各樣的應(yīng)用。渦流探頭生成磁場(chǎng)，磁場(chǎng)在被測(cè)工件中產(chǎn)生電流，電流又會(huì)影響磁場(chǎng)及線圈中電壓的量值及相位。這些探傷儀可以進(jìn)行的應(yīng)用包括對(duì)表面或近表面缺陷的探測(cè)，合金分揀，及螺栓孔的檢測(cè)。
OmniScan MX ECA/ECT
用于進(jìn)行渦流陣列檢測(cè)。其檢測(cè)配置支持32個(gè)傳感器線圈（使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個(gè)線圈），其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz，帶有一個(gè)可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項(xiàng)。
奧林巴斯渦流探傷儀OmniScan MX
OmniScan MX 總體尺寸 （寬 × 高 × 厚） 321 mm × 209 mm × 125 mm 重量 4.6公斤，含模塊和一個(gè)電池 顯示 8.4英寸TFT液晶顯示，800像素 × 600像素，1千6百萬種顏色 電源供應(yīng) 智能鋰離子電池（*多兩節(jié)），直流電輸入電壓為15 V到18 V（*小50 W） 電池供電時(shí)間 使用兩節(jié)電池，至少可使儀器工作6小時(shí)；正常操作條件下，每節(jié)電池至少可使儀器工作3小時(shí)。 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) CompactFlash（閃存）卡、大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)的USB存儲(chǔ)裝置，或者通過快速以太網(wǎng)、內(nèi)置32-MB DiskOnChip（芯片磁盤）。 I/O端口 3個(gè)USB端口、1個(gè)視頻輸出端口（SVGA）、以太網(wǎng)端口（10/100 Mbps）、雙軸編碼器接口、4個(gè)數(shù)字輸入端口（TTL）。 工作溫度范圍 0 °C ～ 40 °C； 使用32:128 PA模塊時(shí)，0 °C ～ 35 ºC 存儲(chǔ)溫度范圍 –20 °C ～ 70 °C，相對(duì)濕度為0 % ～ 95 %，無冷凝。無進(jìn)氣孔；防濺設(shè)計(jì)。 MX模塊兼容性 OMNI-M-ECT4 支持常規(guī)渦流和粘接檢測(cè)C掃描（不含適配器） OMNI-M-ECA4-32 支持渦流陣列、常規(guī)渦流和粘接檢測(cè)C掃描（不含適配器） ECT/BT和ECA模塊 接口 BNC絕對(duì)探頭（ECT）接口、4通道通用Fischer 19針（ECT和BT）接口，以及用于連接ECA探頭的OmniScan接口 通道數(shù)量 1到4個(gè)（ECT）；32個(gè)（ECA），通過外置多路轉(zhuǎn)換器可以擴(kuò)展到64個(gè)；1個(gè)（BT），帶適配器 探頭兼容性 絕對(duì)、差分、橋式、反射式（驅(qū)動(dòng)器-拾波器）與ECT和ECA探頭兼容。
通過使用適配器，可支持所選的BondMaster一發(fā)一收探頭（還需使用掃查器）探頭識(shí)別 自動(dòng)探頭識(shí)別，并為ECA和BT探頭進(jìn)行設(shè)置 頻率 大多數(shù)ECA和ECT設(shè)置有2個(gè)一般頻率，對(duì)于自定義ECT應(yīng)用或粘接檢測(cè)C掃描，可多達(dá)8個(gè)頻率。 操作頻率 20 Hz ～ 6 MHz *大電壓 12 Vp-p，10 Ω 增益 ECT和ECA：34 dB ～ 74 dB。BT：28 dB ～ 68 dB。 附加可調(diào)的軟件增益范圍：0 dB ～ 30 dB。 相位旋轉(zhuǎn) 0°～ 360°，步距為0.1°。 采集（測(cè)量）速率 1 Hz ～ 15 kHz，根據(jù)配置可變。 A/D分辨率 16位 濾波 FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調(diào)）、中值濾波器（在2點(diǎn) ～ 200點(diǎn)之間變化）、平均濾波器（在2點(diǎn)～200點(diǎn)之間變化） 通道處理 真實(shí)的自動(dòng)混合，靈敏度歸一化，以及編碼器校準(zhǔn) 編碼器 時(shí)基，單行掃查或光柵掃查（雙軸） 報(bào)警 3個(gè)報(bào)警，分別配置為餅形、框形、圓環(huán)/圓圈形。報(bào)警輸出有視覺、TTL和聲音類型。 模擬輸出 有，僅一個(gè)通道。
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留 言
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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