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美國GE探傷儀特殊探頭WB45
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：WB45 加工定制：否 是否進口：是 產地：美國 加工定制：否 美國GE探傷儀特殊探頭WB45
數字化 | 渦流 | 膠片 | 檢測系統 | 超聲波 | X射線
特殊探頭能為您解決特殊檢測問題
如果您正有一個檢測難題需要解決，而標準探頭不能解決您的問題，那么您需要讀讀這本小冊子。這里介紹的是已經在許多超聲檢測領域獲得成功應用的特殊探頭，它們都已經通過檢測驗證，得到用戶的肯定, 并且可以根據客戶需要定制。其中必有一種能解決您的檢測問題。
由于我們特殊探頭的范圍非常廣，我們需要把同類型的探頭歸類在一起，從產品型號的編號上對探頭歸類（例如B2S-0A）。在這種情況下，為了選擇合適的探頭，您必須要對檢測任務有詳細的了解。
*好的解決方案是您能發給我們檢測物件的圖紙，上面標有探頭位置，缺陷位置，可能需要的頻率等。如果您在這本冊子里沒有找到與您的檢測問題相關的信息，也請把你的詳細需求發給我們，我們的探頭及應用專家將很樂意為您尋求*佳解決方案并為您提供合適的探頭。
美國GE探傷儀特殊探頭WB45
特殊探頭能為您解決特殊檢測問題
① RB…,MRB…型
用于管道周向檢測的斜探頭，能夠同時從兩個周向檢測管道的。Lemo00接頭。
② IR…型
從管道內部檢測缺陷或測量厚度。
③ Z4R6X6/6X
多晶片探頭—4MHz，6個6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線。我們也能提供其他
頻率，晶片尺寸和晶片數量的探頭，相應的多晶片斜探頭可以用來檢測橫向缺陷。
④ IALF10…型
10MHz水浸探頭，園柱曲面，晶片寬30mm，由PVDF材料制成，帶1.5m
Lemo1接口探頭線。可提供其他頻率和晶片尺寸的探頭。
鐵軌檢測探頭
① SESZS…型
4MHz雙 晶 直 探 頭 ， 0.95m探 頭 線 ，Lemo接頭。
② SESZW…型
雙晶斜探頭，聲束同時向前，向后70º入射，2MHz，帶0.75m探頭線，Lemo1接頭。
③ WB45-01型
45º斜探頭，1MHz，頂端帶Lemo1接頭；套在夾具上組成前后串聯式檢測鐵軌。
注釋:
SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測系統自動檢測。用于坯餅檢測時請參
考第6頁，板坯檢測。關于其他的檢測問題，請聯系我們的技術人員。
美國GE探傷儀特殊探頭WB45
用于軸承和輪軸
① B2S-0A…型
1MHz，2MHZ，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm，可更換保護膜。通過不同角度延
遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測大軸承偏
心位置的體積型缺陷。
② AW…型
斜探頭，延遲塊可更換，2MHZ，晶片直徑24mm，Lemo1接頭；適用于橫波探
傷，探頭接觸面可與曲面耦合。
③ ASW…型
斜探頭，用橫波檢測輪軸中心孔，帶有2m探頭線，Lemo1插頭一個。
④ B…S, MB…S
直探頭，可提供各種頻率，晶片直徑為10mm和24mm，帶延遲塊。B…S型為
Lemo1接頭，MB…S探頭為Lemo00接頭。
⑤ Z2GB1, Z4NB5
帶延遲塊的縱波斜探頭，專為電梯軸承檢測設計，與Lemo 00插頭匹配。
注釋:
對于粗晶材料(由于晶粒散射而導致信噪比差)，請參照第15頁“粗晶結構材料
的檢測”。關于特大軸承檢測請參照第6頁“大型部件檢測”。
用于板坯
① SEZ4R10…型
雙晶4MHz探頭，聲束寬度約為50mm，由一個發射晶片和3個接收晶片組成，一根探頭線，帶有4個Lemo1接頭。
① 5Z6X27ND型
雙晶5MHZ探頭，聲束寬度約為25mm，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測。
② B…S-O型
提供各種頻率的直探頭，可更換保護膜，頂部Lemo1接頭。例如用于檢測平板輥筒。
③ SEZ4N30V，SEB4TV型
4MHz雙晶探頭，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測平板輥筒。
④ UWB…
1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可調斜探頭，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接
口，用于產生蘭姆波。
用于大型部件
① NQP…型
用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ，2MHZ，晶片直徑34mm，50mm，或
75mm，深度越深處，焦點直徑越小，Lemo1接頭。尤其適用于各個方向的相
鄰缺陷。
② WQP…型
聚 焦 斜 探 頭 ， 晶 片 直 徑 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深處，焦點直徑越小，Lemo1接頭。
③ SEB…G型
雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接頭。
④ GRST…型
相控陣探頭，聲束焦點和角度可變，可用于自動檢測系統。
用于特殊形狀工件
例如飛機零件
① G…MN，G…KS型
多 種 頻 率 高 分 辨 率 的 直 探 頭 ， 可 更換延遲塊，Microdot接頭，G…KS為
Lemo00探頭。例如用于渦輪葉片冷卻壁 測 量 。 檢 測 塑 料 時 ， 延 遲 塊 可 根
據 實 際 使 用 環 境 設 計 ， 使 延 遲 塊 跟工件完美耦合，消除界面回波（0界面探頭）。
② H…MN…F型
高分辨率水浸探頭，多種頻率和晶片直徑可選，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防
水Lemo03接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測量。
③ SMWB…
小晶片斜探頭，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接頭；例如檢測鉚釘孔的裂紋，也可用串聯式技術檢測。
例如：汽車部件
汽車零件的檢測幾乎是機械自動化的。活塞，閥門，輪軸，齒輪檢測的相關信
息可在特別發布的SD263資料中找到。點焊檢測的信息參見第10頁。
美國GE探傷儀特殊探頭
用于其他檢測應用
超聲檢測的應用范圍非常廣，我們經常接到一些檢測應用要求，有些檢測要求
至今為止都沒有方法實現，我們收集了大量相關資料。這里列舉了一些例子：
豬的脂肪與肌肉檢測，皮膚厚度的測量，眼睛的長度測量，人體眼睛透鏡厚
度的檢測，雞蛋殼的厚度測量，食物中固體的確定，金錠和金幣的檢測，骨骼
康復治療的監測，液體的凝固和分離，啤酒，奶酪或水果的成熟度，微型電子
部件等的檢測。
我們致力于解決超聲領域各種應用要求。因此，如果您有檢測要求，請務必
與我們聯系，我們將給你一個*佳解決方案。
用于混凝土，石頭，和木材
① B0.05N，B0.05U…型
直 探 頭 ， 5 0 K H Z ， 接 觸 面 3 0 m m 和55mm，信號衰減弱，Lemo1接頭；只
能用于穿透式檢測。我們可以提供更高頻率探頭。
② B0.05NN型
直探頭，50KHZ，探頭通過增強桿增強超聲信號，聲束傳播直徑大，Lemo1接
頭，只適用于穿透式軟質材料的檢測(如木材）。
③ K0.1G，K0.25G型
100KHZ和250KHZ直探頭，接觸面直徑45mm，阻尼性好，例如脈沖持續時間
短，防水Lemo1接頭；在脈沖回波模式可用于精確測量超聲傳播時間。
③ B…SL，G0.5G型
250 kHz，500 kHz，1 MHz直探頭，各種晶片尺寸可選，Lemo1接頭。
用于陶瓷（如絕緣材料）
① K…G，K…N 型
高分辨率直探頭，提供各種頻率，晶片直徑24mm和10mm，耐磨接觸面和Lemo00接頭。
② IB…
2MHZ或4MHZ，Lemo00接頭，窄外殼設計使得探頭能進入傘形絕緣體的縫隙中。
③ IW…B…
4MHZ 斜探頭，Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點。注釋：大部分標準探頭可以用于檢測大絕緣體，成形的陶瓷工件可使用高頻探頭（如AP-FM50.3.1）水浸法探傷。
用于簡單復合纖維塑料
① G…NS，G…KS型
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，通過螺紋固定保護膜或延遲塊，Lemo00接頭。可以根據工件材料設計延遲塊，盡量消除界面波的影響（0界面探頭）。也適用于帶涂層工件的厚度測量。
② CA212，CA214
高分辨率直探頭，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接頭，通過螺紋固定保護膜或延遲塊，適用于帶涂層工件的厚度測量。
② G…N，G…KB
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，Lemo00接頭，耐磨接觸面。
③ W70B2GT型
70º斜探頭，頻率為2MHZ，Lemo00接頭，適合檢測PE和PVC材料。65º斜探頭可用于檢測大厚度材料，WB70-1適合厚度更大的材料。
說明：
關 于 熱 塑 料 的 檢 測 請 參 見 特 別 版SD277資料，干耦合檢測相關信息見第14頁。
用于點焊檢測
① G20MN…型
高 分 辨 率 直 探 頭 ， P V D F 晶 片 ，20MHZ，Microdot接頭和水延遲線，由可更換彈性保護膜密封，用于點焊檢測；晶片尺寸取決于點焊焊核，可以用15MHZ探頭檢測更大厚度的點焊。更多詳情請看特別版SD272。
用于精密部件檢測
① G…MN型
各種頻率沖擊波探頭，晶片直徑可選，Microdot接頭，可更換延遲塊；尤其適用于點焊檢測。
② H…NA，H…KA，H…MA型
各種頻率，晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭，H…N，H…K帶2.5m探頭線，H…M帶1.5m探頭線，Lemo00接頭；尤其適合厚度測量。
③ H...KP...F, H...MP...F型
各種頻率，晶片尺寸，焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水Lemo03接頭，并附有用于機械自動檢測的噴水耦合噴嘴。
美國GE探傷儀特殊探頭
膠接層檢測
例如在滑動軸承（白金屬鐵或鋁鐵），焊接頭（鐵與鐵或者銅與銅，銅表面包銀），搭接焊，離合器扭轉或制動襯板粘結檢測，關于更詳細的膠接檢測信息請查閱另外更詳細的資料SD288。然而，對于大部分檢測應用要求，標準 探 頭 都 能 滿 足 。 如 有 特 殊 應 用 需求，請聯系我們-我們將為您提供*合適的探頭。
腐蝕檢測- DA312
DA412
性能與DA312一樣，比DA312多對話功能，探頭里存儲了探頭參數。
DA311
相當于標準探頭DA301，只是探頭接口在頂部。
DA303
2MHz雙晶探頭，用于測量聲能吸收或者聲散射嚴重的材料。
DA0，8G
雙晶探頭，用于聲衰減或者聲散射非常嚴重的材料（例如，鑄件或者塑料）。
DA408
與DA0，8G相同，只是比DA0，8G多對話功能，探頭里存儲了探頭參數。
DA317類型
雙晶探頭用于檢測厚度比較小并且表面溫度*大為300℃的工件，該型號探頭的耦合穩定性非常好。
DA319
與DA312相同，只是該型號能用于表面溫度高達250℃的工件。
HT400
雙 晶 探 頭 用 于 檢 測 表 面 溫 度 高 達550℃的工件，在室溫下可測量的*小厚度為0.8mm。
DA305
雙晶探頭使用石英玻璃延遲塊，尤其適合于溫度非常高的工件檢測。
DA類型
一個非常小的筆型雙晶探頭，Microdot接 頭 ， 可 以 檢 測 接 觸 面 積 非 常 小 的工件。
CA212，CA214
高 分 辨 率 直 探 頭 ， 頻 率 為 2 M H z 或5MHz，通 過 螺 紋 固 定 延 遲 塊 或 保 護膜 ； 適 用 于 帶 A 掃 描 測 厚 儀 測 量 厚度值。
用于測試材料特性
例如利用縱波橫波聲速計算彈性模量。
G…N，G…KB，G…K型
各種頻率，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面，Lemo00插頭。
G…K型為
Microdot接頭。適合測量縱波聲速。
SM-P…型
各種頻率，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭，有一個磁環可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測量螺栓應力。
K…NY，K…KY型
高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測量橫波聲速，適用于精密測厚儀。
注釋：
如有需要，橫波和縱波晶片可以同時封裝在一個外殼里。例 如 可 以 用 來 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度。
Z20m型
20MHZ，窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適合用超聲背散射測量硬化層深度。
注釋：
硬化層和未硬化層之間的結構突變是測量的先決條件。參見SD284。
Z10M型
10MHZ窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適用于純度測量。
美國GE探傷儀特殊探頭
串聯式焊縫檢測- W45SEK2/…型
② D45N2…型
各種角度，頻率，晶片尺寸的斜探頭，適用于串聯式厚焊縫檢測。可用于機械自動檢測。
高溫高壓或輻射環境下檢測- W…B2GV，W…B4GV
② SEB4KV
4MHZ雙晶探頭，Lemo00接頭，與A掃描顯示的儀器連接可在高溫下用于厚度測量。
LWG854型
防輻射探頭：如檢測滲水燃油桿。
③ H5KV型
5MHZ水浸探頭，防水Lemo03接頭，可在125º和60bar下工作。尤其適合檢測輸油管道連續厚度測量和缺陷檢測，用特殊的表面保護層可用于腐蝕性材料檢測。
④ K5KVB4型
5MHZ直探頭，耐熱延遲塊，可用于高溫高壓下塑料部件的厚度測量。使用特殊延遲塊可用于腐蝕性材料檢測。
注釋：
高溫測厚探頭詳細資料見第11頁。
用于結構復雜，空間接觸面積受限制的工件
SMWB型
小晶片斜探頭，頻率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可選，Microdot接頭。
② K…M…型
各頻率小晶片直探頭，（外徑2.5mm，高度3mm），Microdot接頭或固定細探頭線。可提供接觸面直徑為2mm的錐形延遲塊。
③ WSY型
90º爬波探頭，Lemo00接頭，用來檢測難以接近的位置。
注釋：
爬波在工件表面下沿直線傳播。它并不像表面波一樣沿著表面傳播。所以有些用其他超聲波無法檢測到的缺陷可以用爬波檢測到。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產生爬波。
不用耦合劑（干耦合）檢測
如果在檢測工件表面不能使用液體耦合劑，某些情況下可以使用塑料來代替。
用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面保證探頭和檢測工件耦合。滾筒探頭，
B1KS，B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒有耦合的情況下連續檢測。在這種情
況下，保證探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的，因為工件表面的臟物會
使探頭不能與工件耦合。這種技術尤其適合于塑料檢測。詳情請參見SD261。
用于粗晶材料的檢測（鑄件和奧氏體材料）
很多用于檢測粗晶材料的探頭都得到成功應用，現在已成為標準探頭。
包括：- K…S，K…SM
② WRY…，WSY…
45º，60º，70º縱波斜探頭，高分辨率，頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ，Lemo00接頭。
③ VRY…，VSY…
45º，60º，70º，2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ，Lemo00接頭。如果您需要與上述標準探頭頻率、入射角、接頭型號不同的探頭，請聯系我們，我們將給您提供*佳探頭，使其能滿足您的應用需求。
根據標準檢測
很多國家的標準都規定了探頭的技術參數，常規檢測的檢測方法和規范。這些
標準的數量和范圍都非常大，在此對于具體的探頭參數不一一列舉。
如果您需要符合特定標準的探頭，請聯系我們，如果您急需探頭的話，我
們建議您給我們提供基于標準的探頭技術資料。
深圳市泰立儀器儀表有限公司成立于2005年，是優質無損檢測儀器配套方案提供商，從事測試儀器儀表設備的代理、銷售和服務工作。在與國外儀器儀表生產廠商的技術交流和銷售工作中有著廣泛長期的合作伙伴關系，并由此墊定了優異且堅實的商業營運基礎。
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